|
 |
Межотраслевая Интернет-система поиска и синтеза физических принципов действия преобразователей энергии
|
Общий каталог эффектов
 | Поля эффект |
 |
Изменение проводимости полупроводника при наложении электрического поля, перпендикулярного его поверхности
Описание
Поля эффект – изменение проводимости полупроводника при наложении электрического поля, перпендикулярного его поверхности. Если одной из обкладок плоскопараллельного конденсатора является полупроводник n-типа, а другой – металл, и если металл зарядить положительно, то полупроводник заряжается отрицательно, то есть в его приповерхностном слое появляются избыточные электроны, которые вместе с электронами, находящимися в объеме полупроводника будут участвовать в электропроводности, увеличивая её (за исключением электронов, захваченных на поверхностные уровни). Поэтому, может быть, как положительным, так и отрицательным.
Рассмотрим зонную диаграмму приповерхностной области полупроводников в равновесных условиях. Рассмотрим, как будет меняться концентрация свободных носителей в приповерхностной области полупроводника, когда вблизи этой поверхности создается электрическое поле. Для примера будем считать, что электрическое поле создается заряженной металлической плоскостью с поверхностной плотностью зарядов σ. Поскольку силовые линии электрического поля должны быть замкнуты, то на поверхности полупроводника возникает равный по величине, но противоположный по знаку электрический заряд. В зависимости от знака заряда на металлической плоскости (положительной или отрицательной) экранирующий это поле заряд в приповерхностной области полупроводника также будет различных знаков. На рис.1 приведены ситуации положительно и отрицательно заряженной плоскости.
Изменение концентрации свободных носителей в приповерхностной области полупроводника при наличии вблизи поверхности заряженной металлической плоскости
Рис.1
Случай, когда в приповерхностной области возрастает концентрация свободных носителей, носит название обогащение, а когда в приповерхностной области уменьшается концентрация свободных носителей - обеднение.
Если концентрация доноров в объеме полупроводника ND=1015см-3, то среднее расстояние между свободными электронами (и ионизированными донорами) в квазинейтральном объеме полупроводника будет равно а = ND-1/3 = 10-5 см = 1000 Å. При поверхностной плотности заряда σ = 1012 см-2 толщина слоя пространственного заряда ионизованных доноров будет равна 1011 / 1015 = 10-4 см или 1 микрон. Отсюда следует, что электрическое поле в полупроводник может проникать на значительные расстояния.
Изменение концентрации свободных носителей в приповерхностной области полупроводника под действием внешнего электрического поля получило название эффекта поля.
При наличии внешнего поля приповерхностная область в полупроводнике не будет электронейтральной. Заряд, возникший в этой области, обычно называется пространственным зарядом, а сама область - областью пространственного заряда (ОПЗ). Наличие электрического поля E(z) в ОПЗ меняет величину потенциальной энергии электрона. Если поле направлено от поверхности вглубь полупроводника, то электроны в этом случае будут иметь минимальную энергию у поверхности, что соответствует наличию потенциальной ямы для электронов там же.
Изменение потенциальной энергии электронов:
где U(∞)-потенциальная энергия электронов в квазинейтральном объеме полупроводника. Поскольку на дне зоны проводимости кинетическая энергия электронов равна нулю, то изменение потенциальной энергии по координате должно точно так же изменить энергетическое положение дна зоны проводимости Ec, (а соответственно и вершины валентной зоны Ev.) На зонных диаграммах это выражается в изгибе энергетических зон.
Ключевые слова
Разделы наук
Используется в научно-технических эффектах
Используется в областях техники и экономики
Используются в научно-технических эффектах совместно с данным эффектом естественнонаучные эффекты
Применение эффекта
Эффект поля заключается в том, что при воздействии электрического поля на поверхность электропроводящей среды в её приповерхностном слое изменяется концентрация свободных носителей заряда. Этот эффект лежит в основе работы полевых транзисторов (рис.1).
Расположение зарядов в МДП-транзисторе
Рис.1
Изменение эффекта поля дает информацию как об области пространственного заряда, так и поверхностных состояниях. Схема измерений эффекта поля представлена на рис. 2.
При измерении эффекта поля по нормали к поверхности образца прилагается электрическое поле, в результате чего на поверхности наводится заряд δq. Искомой величиной является комплекс δ(Δσ)/δqeμn, где δ(Δσ) - измеренное изменение поверхностной проводимости, а δqeμn - изменение проводимости, которое имело бы место, если бы весь наведенный заряд создавался электронами проводимости с подвижностью, равной подвижности в объеме. Зависимость δ(Δσ)/δqeμn от V, можно рассчитать теоретически. Однако на практике не весь наведенный заряд остается в зоне проводимости, часть его захватывается на поверхностные уровни. В этом случае изменение проводимости существенно меньше расчетного значения. Поэтому вводят соответствующие поправки.
Схема измерений эффекта поля
Рис.2
Реализации эффекта
Величина разности потенциалов между квазинейтральным объемом и произвольной точкой ОПЗ получила название электростатического потенциала:
Значение электростатического потенциала на поверхности полупроводника называется поверхностным потенциалом и обозначается символом ψs.
Знак поверхностного потенциала ψs соответствует знаку заряда на металлическом электроде, вызывающего изгиб энергетических зон.
ψs > 0, зоны изогнуты вниз, ψs < 0, зоны изогнуты вверх (рис.1).
Энергетические зоны на поверхности полупроводника n-типа: а) в случае обеднения; б) в случае обогащения
Рис.1
Литература
1. Физическая энциклопедия./ гл. ред. Прохоров А.М. - М.: «Большая российская энциклопедия», 1994
2. П. Хоровиц, У. Хилл. Искусство схемотехники. - М.: Мир. 1998.