Межотраслевая Интернет-система поиска и синтеза физических принципов действия преобразователей энергии

Стартовая страница

О системе

Технические требования

Синтез

Обучающий модуль

Справка по системе

Контакты
Искать:
  Расширенный   Формализованый   По связи разделов
 А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ы Э Ю Я 
Общий каталог эффектов

Брэгга-Вульфа условие
Определение положений максимумов интенсивности упругого рассеяния рентгеновского излучения на кристалле

Анимация

Описание

Толкование рентгеновской дифракционной картины, полученной в опыте Лауэ, оказалось довольно сложным, и разрешили эту проблему независимо друг от друга англичанин У.Л. Брэгг, сын известного физика того времени У.Г. Брэгга, и русский кристаллограф Ю.В. Вульф. В 1913 г. они вывели закон отражения рентгеновских лучей от кристалла, рассмотрев рассеяние рентгеновских лучей как отражение от атомных плоскостей, которые условно можно провести через центры атомов, образующих кристалл. Атомы при этом считались неподвижными, и кристалл представлялся в виде семейства параллельных плоскостей, находящихся на одинаковом расстоянии друг от друга. Предполагалось, что число атомных плоскостей велико, а преломления нет.
Пусть на кристалл под некоторым углом скольжения θ к плоскостям с межплоскостным расстоянием d падает параллельный пучок монохроматических (λ=const) лучей. Отраженные от различных плоскостей (p-p' и q-q') одного и того же семейства лучи интерферируют, ослабляя или усиливая друг друга в зависимости от разности хода D (рисунок 1):
D = BC - AC = d/ sinθ[1-cos2θ]=2dsinθ.
Условие Вульфа-Брэгга
Рисунок 1
Интерференционный максимум будет наблюдаться, когда выполняется условие 2dsinθ=nλ, известное как формула Брэгга - Вульфа и связывающее угол скольжения θ, при котором происходит отражение рентгеновских лучей кристаллом (брэгговский угол), с межплоскостным расстоянием d в кристалле и длиной волны падающих лучей λ. Здесь n-порядок отражения от данного семейства кристаллографических плоскостей, для обозначения которых используются индексы Миллера (HKL): индексы Миллера показывают, что две соседние плоскости семейства плоскостей с межплоскостным расстоянием dHKL отсекают на оси a отрезок а/H, на оси b − b/K и на оси c − с/L. В рентгенографии оказалось удобнее представить отражение n-го порядка от плоскостей (HKL) как отражение первого порядка от параллельных им плоскостей с межплоскостным расстоянием dhkl =d/n и индексами (h=nH,k=nK,l=nL). В этой совокупности плоскостей узлы решетки располагаются только на каждой n-й плоскости (рисунок 2).
Кристаллическая решетка и индексы Миллера
Рисунок 2
Расширяя таким образом понятие плоскостей решетки, мы упрощаем уравнение Брэгга-Вульфа, поскольку теперь плоскостям с любыми заданными индексами будет отвечать единственный брэгговский угол θ, определяемый условием:
2dhkl sinθ=λ   (1)
Из формулы (1) следует, что, анализируя дифракционные картины, можно найти dhkl, если известно λ, и наоборот, а индексы отражающего семейства плоскостей, обычно обозначаемые (hkl), совпадают с миллеровскими с точностью до постоянного множителя n.
Уравнение Брэгга-Вульфа является основой рентгеновского анализа. Оно указывает, как можно, зная длину волны падающего излучения и измеряя брэгговские углы, найти межплоскостные расстояния в кристалле. В свою очередь, для каждого семейства параллельных плоскостей совокупность направлений селективного отражения связана с межплоскостными расстояниями соотношениями, позволяющими рассчитать размеры и форму элементарной ячейки кристалла и, следовательно, изучать строение кристаллической решетки.
Обширные эксперименты, проведенные Брэггами по исследованиям кристаллов, положили начало рентгеноструктурному анализу и принесли этим ученым в 1915 г. Нобелевскую премию по физике. Примечательно, что У.Л. Брэггу было всего 25 лет.
Соотношение (1) при обычных измерениях брэгговских углов на рентгенограмме выполняется довольно точно, несмотря на то, что при выводе использовалась заведомо неверная физическая предпосылка: отражение от фиктивных атомных плоскостей. На самом деле возникновение дифракционной картины от кристалла − процесс гораздо более сложный, поскольку дифракция рентгеновских лучей в кристалле является результатом когерентного рассеяния рентгеновских лучей электронами атома.
 

 

 

Ключевые слова

 

Разделы наук

 

Используется в научно-технических эффектах

Способ записи и восстановления светового поля, основанный на регистрации интерференционной картины, образованной когерентными предметной и опорными волнами (Оптическая голография )

 

Используется в областях техники и экономики

1Телекоммуникационные сети и аппаратура
1Аппаратура для оптической связи в свободном пространстве
1Инфракрасная техника
1Телевизионная техника
1Технологии, использующие голографию
1Квантовая электроника

 

Используются в научно-технических эффектах совместно с данным эффектом естественнонаучные эффекты

1Дисперсия света (Дисперсия света)
1Изменение масштаба восстановленного голографического изображения при изменении длины волны восстанавливающего излучения (Голографическое увеличение)
1Прохождение волн через границу разделе двух сред и отражение о нее (Закон отражения волн)
1Представление волнового фронта, создаваемого источником света, как результат интерференции вторичных когерентных волн (Гюйгенса-Френеля принцип)
1Определение положений максимумов интенсивности упругого рассеяния рентгеновского излучения на кристалле (Брэгга-Вульфа условие)
1Модуляция света, вызванная изменениями среды, связанными с прохождением через нее той же световой волны (Самомодуляция света)

 

Применение эффекта

С открытием дифракции рентгеновских лучей в распоряжении исследователей оказался метод, позволяющий без микроскопа изучить расположение отдельных атомов и изменения этого расположения при внешних воздействиях.
Основное применение рентгеновских лучей в фундаментальной науке − структурный анализ, то есть установление пространственного расположения отдельных атомов в кристалле. Для этого выращивают монокристаллы и проводят рентгеноанализ, изучая как расположения, так и интенсивности рефлексов. Сейчас определены структуры не только металлов, но и сложных органических веществ, в которых элементарные ячейки содержат тысячи атомов.
В минералогии методом ретгеноанализа определены структуры тысяч минералов и созданы экспресс-методы анализа минерального сырья.
У металлов сравнительно простая кристаллическая структура и рентгеновский метод позволяет исследовать ее изменения при различных технологических обработках и создавать физические основы новых технологий.
По расположению линий на рентгенограммах определяют фазовый состав сплавов, по их ширине − число, величину и форму кристаллов, по распределению интенсивности в дифракционном конусе − ориентировку кристаллов (текстуру).
С помощью этих методик изучают процессы при пластической деформации, включающие в себя дробление кристаллов, возникновение внутренних напряжений и несовершенств кристаллической структуры (дислокаций). При нагреве деформированных материалов изучают снятие напряжений и рост кристаллов (рекристаллизация).
При рентгеноанализе сплавов определяют состав и концентрацию твердых растворов. При возникновении твердого раствора меняются межатомные расстояния и, следовательно, расстояния между атомными плоскостями. Эти изменения невелики, поэтому разработаны специальные прецизионные методы измерения периодов кристаллической решетки с точностью на два порядка превышающей точность измерения при обычных рентгеновских методах исследования. Сочетание прецизионных измерений периодов кристаллической решетки и фазового анализа позволяют построить границы фазовых областей на диаграмме состояния. Рентгеновским методом можно также обнаружить промежуточные состояния между твердыми растворами и химическими соединениями – упорядоченные твердые растворы, в которых атомы примеси расположены не хаотически, как в твердых растворах, и в то же время не с трехмерной упорядоченностью, как в химических соединениях. На рентгенограммах упорядоченных твердых растворов есть дополнительные линии, расшифровка рентгенограмм показывает, что атомы примеси занимают определенные места в кристаллической решетке, например, в вершинах куба.
При закалке сплава, не испытывающего фазовых превращений, может возникать пересыщенный твердый раствор и при дальнейшем нагреве или даже выдержке при комнатной температуре твердый раствор распадается с выделением частиц химического соединения. Это эффект старения и проявляется он на рентгенограммах как изменение положения и ширины линий. Исследование старения особенно важно для сплавов цветных металлов, например, старение превращает мягкий закаленный алюминиевый сплав в прочный конструкционный материал дуралюмин.
Наибольшее технологическое значение имеют рентгеновские исследования термической обработки стали. При закалке (быстром охлаждении) стали происходит бездиффузионный фазовый переход аустенит – мартенсит, что приводит к изменению структуры от кубической к тетрагональной, то есть элементарная ячейка приобретает форму прямоугольной призмы. На рентгенограммах это проявляется как расширение линий и разделение некоторых линий на две. Причины этого эффекта – не только изменение кристаллической структуры, но и возникновение больших внутренних напряжений из-за термодинамической неравновесности мартенситной структуры и резкого охлаждения. При отпуске (нагреве закаленной стали) линии на рентгенограммах сужаются, это связано с возвращением к равновесной структуре.
В последние годы большое значение приобрели рентгеновские исследования обработки материалов концентрированными потоками энергии (лучами лазера, ударными волнами, нейтронами, электронными импульсами), они потребовали новых методик и дали новые рентгеновские эффекты. Например, при действии лучей лазера на металлы нагрев и охлаждение происходят настолько быстро, что в металле при охлаждении кристаллы успевают вырасти только до размеров в несколько элементарных ячеек (нанокристаллы) или вообще не успевают возникнуть. Такой металл после охлаждения выглядит как обычный, но не дает четких линий на рентгенограмме, а отраженные рентгеновские лучи распределены по всему интервалу углов скольжения.
После нейтронного облучения на рентгенограммах возникают дополнительные пятна (диффузные максимумы). Радиоактивный распад также вызывает специфические рентгеновские эффекты, связанные с изменением структуры, а также с тем, что исследуемый образец сам становится источником рентгеновского излучения

 

Реализации эффекта

Еще в 1943 г. Оулин заметил, что при высокой точности измерения углов скольжения длины волн, рассчитанные по нескольким порядкам отражений от одного и того же семейства плоскостей, неодинаковы. Было установлено, что причиной такого расхождения является преломление рентгеновских лучей (рисунок 1).
Пусть длина волны падающего на кристалл под углом скольжения θ монохроматического рентгеновского луча равна λ. На входе в кристалл луч преломляется, угол скольжения становится равным θ', закон Брэгга-Вульфа записывается как
nλ'= 2dsinθ'   (2)
А длина волны изменяется в соответствии с законом Снеллиуса:
1− d = λ/λ'=cosθ/cosθ'    (3)
Преломление лучей
Рисунок 1
На основе уравнений (2) и (3) закон Брэгга - Вульфа представляется в виде:
Или:
  (4)
Измеряя углы θ1 и θ2 для двух различных порядков отражения n1 и n2 соответственно, можно найти величину действительной части показателя преломления:
Нужно подчеркнуть, что кристалл отражает рентгеновские лучи только при определенных углах скольжения θ, удовлетворяющих условию (1) и названных брэгговскими углами, то есть в отличие от зеркал оптики видимого света кристалл отражает рентгеновские лучи селективно.
Другое важное отличие обусловлено тем, что расходимость падающего на кристалл пучка рентгеновских лучей значительно превышает угловой интервал, в котором происходит отражение, и в результате отражается лишь очень небольшая часть падающей энергии. Зеркало же отражает все лучи светового пучка, благодаря чему отражается и значительная часть световой энергии.

Литература

1. Сивухин Д.В. Оптика: Учеб. пособие. − 2-е издание испр. − М: Наука, Гл. ред. физ. –мат. лит., 1989. − 752 с., ил. стр.390

2. Физическая энциклопедия / гл.ред. Прохоров А.М. - М.: Большая российская энциклопедия. 1994.

Формализованное описание Показать

Стартовая страница  О системе  Технические требования  Синтез  Обучающий модуль  Справка по системе  Контакты 
Copyright © 2008 РГУ нефти и газа им. И.М. Губкина